由于EFT/ESD信號具有高壓和寬頻譜等特征，傳統的示波器和頻譜分析儀很難測量干擾電流的路徑。通過上文的介紹，我們知道，部分電子產品需要通過電快速瞬變脈沖群（EFT）（根據IEC61000-4-4）和靜電放電（ESD）(根據IEC61000-4-2)等項目的標準測試。EFT和ESD是兩種典型的突發干擾，EFT信號單脈沖的峰值電壓可高達4kV，上升沿5ns。接觸放電測試時的ESD信號的峰值電壓可高達8kV，上升時間小于1ns。這兩種突發干擾，都具有突發、高壓、寬頻等特征，現在我們就在本文介紹下用于測量和排除EFT/ESD問題的E1抗干擾開發系統，專門測量和排除EFT/ESD問題。。用于測量和排除EFT/ESD問題的E1抗干擾開發系統由四大部分組成：

       1．產生突發干擾的突發干擾信號源HGZ01

HGZ01產生連續的類似于EFT或者ESD的干擾脈沖，脈沖的上升沿時間為2ns，下降沿時間為約10ns。這些脈沖包含的能量比標準的EFT脈沖或ESD脈沖小，因此能在不損壞被測設備的情況下，把干擾直接耦合到EUT的內部PCB上。

HGZ01輸出的脈沖信號，其脈沖幅度是連續變化的，峰值在0－1500V之間，按統計平均分布。利用這種方法，配合傳感器，加上HGZ01內置的光纖輸入計數器，能對PCB進行特別快速的抗干擾性能評估。

HGZ01采用電氣隔離(無大地參考)的對稱輸出。干擾脈沖能被容性耦合，極性可變。這樣，就能采用各種耦合方式，例如：

a. 把發生器的輸出直接連接到被測物的GND系統上，把干擾電流直接注入到GND系統。

b. 把干擾電流注入到GND，然后從VCC返回。

c. 干擾電流可以注入到變壓器、分配器或者光耦的初級，從次級返回。

2．接收突發干擾的瞬態磁場探頭MS02

流過EUT的干擾電流會產生磁場。通過磁場的強度和方向等信息能提供干擾電流的分布情況。MS02瞬態磁場探頭是一個無源探頭，通過光纖連接到HGZ01計數器的輸入，利用計數器的讀數，可以測量突發電磁場的相對強度。

如果MS02檢測到磁場脈沖，它就會發出一個光脈沖。光脈沖的數量，可以在HGZ01計數器上讀到，這個值和測量到的平均磁場強度成一定的比例。只有穿過探頭環的磁力線才會被檢測到，因此通過旋轉探頭的方向，找到*大計數值，可以檢測到磁力線的方向，從而準確探測干擾電流的方向。

3．將信號源的電輸出變為突發電磁場的電場和磁場場源探頭組

場源探頭組，包括各種尺寸和形狀的磁場場源探頭和電場場源探頭，*小分辨率可小于1mm?？梢赃B接到HGZ01信號源的輸出，向被測電路中的接地系統、電源系統、集成電路、引腳、分立元件、關鍵布線、電纜、接插件等地方注入干擾，用于定位電路敏感點位置。

在利用HGZ01信號源和瞬態磁場探頭找出干擾電流的路徑之后，使用場源探頭，可以檢查該路徑周圍是否存在敏感的信號線或者器件，如果是器件，還應該檢查是器件的哪個引腳。

不同的電路結構，可能會對磁場敏感，也可能會對電場敏感。E1中的場源，有的是產生磁場的，有的是產生電場的，這樣可以確認EUT對哪種類型的干擾場敏感。

4．檢測集成電路敏感度的IC傳感器等

為了評估電路修改的有效性，特殊設計的IC傳感器S31能和EUT內部器件一樣，感應突發干擾對數字邏輯的影響，并把干擾情況通過光纖傳遞到計數器。

E1抗干擾開發系統，配置有多種EMC傳感器，可以監測PCB上的關鍵信號線、電源、地、電纜、接插件等被動干擾的情況。

用于測量和排除EFT/ESD問題的E1抗干擾開發系統定位EFT/ESD問題的方法

用于測量和排除EFT/ESD問題的E1抗干擾開發系統，在設備內部仿真干擾的過程。能采用不同的方式，向電子模塊直接注入干擾電流、電場和磁場，以定位電路板上的電磁薄弱點，理解耦合機理，并完成*優化的設計修改。

用于測量和排除EFT/ESD問題的E1抗干擾開發系統不能按照某個標準進行兼容性測試。所以建議先對被測物進行標準的抗干擾測試，然后對可能的故障原因進行分析，再利用E1來找出更多的故障原因，并利用E1在產品開發場地進行設計修改的評估。

測量的目的是再現在標準抗干擾測試時的功能故障，從而確認和評估干擾被耦合入和耦合出的路徑。

使用E1抗干擾開發系統，測量和定位EFT/ESD問題的一般步驟為：

1．故障粗略定位

檢查EUT的各個電路模塊，例如整塊PCB、PCB間的互聯電纜、PCB內的電路功能模塊等。

取EUT的一塊PCB或者一部分電路，對該模塊的GND直接注入干擾：

* 兩極連接方式注入干擾：

把HGZ01信號源的兩個輸出，分別連接到電路模塊的GND上，判斷是否是磁場敏感。如果在這種方式下，EUT出現期望的功能故障，說明在這兩個GND節點之間存在的干擾電流路徑周圍，存在對磁場敏感的敏感點。

* 單極連接方式注入干擾：

把HGZ01信號源的其中一個輸出接到電路模塊的GND上，另一個輸出端接到EUT的機箱(可以用電場場源模擬機箱)，判斷是否是電場敏感。如果單極連接期間出現功能故障，可能是：

電場：直接由EUT和場源探頭間引起的故障；

磁場：流入電場的電流產生磁場，磁場被耦合到信號環路上，導致出現故障。

區分辦法：

在EUT的GND和附近的金屬物體之間建立一個很短的低阻抗的連接，從而消除電場的影響，如果不再出現那個已知的功能故障，就說明，那個已知的功能故障是由電場引起的。否則，這個故障可能是磁場引起的。

2．測量干擾電流路徑

通過"故障粗略定位"，把敏感點位置進行了粗略的定位，同時確定了電路敏感的性質(磁場敏感或者電場敏感)。使用瞬態電磁場探頭，能測量EUT內部突發磁場的相對強度，并可以測量出干擾電流的流向。利用瞬態磁場探頭測量時，能幫助你發現：

a. EUT內哪里存在突發磁場？

b. EUT內部的干擾電流是怎么流的？

c. 干擾電流有沒有流入集成電路的輸入和輸出？

d. 旁路電容有什么影響，應該采用多大容值的電容？

e. 屏蔽連接的長度是如何影響旁路電流的？

3．定位敏感點

在把故障定位到模塊并測量出電流路徑之后，使用場源，能對敏感點進行定位：

首先是根據前面的測量結果來選擇場源，決定使用磁場場源或者電場場源。

再依據測量到的"電流路徑"，沿著干擾電流方向的路徑，使用相應的場源對EUT注入干擾。E1抗干擾開發系統配備了不同分辨率的9種場源，選擇場源時，從大面積到小面積，選擇強度時，探頭由遠到近慢慢靠近EUT，從而*終確定敏感點的位置。

4．評估電路修改有效性

找出電路內部存在的敏感點之后，開發人員會進行電路修改以改善EUT的抗干擾性能。為此，E1抗干擾開發系統，使用了一套"脈沖率測量法"的技術，讓我們能對電路修改的有效性進行快速的評估。脈沖率測量法需要使用HGZ01發生器和傳感器。

HGZ01產生如圖6所示的，輸出脈沖無序的，峰值電平呈平均分布的脈沖信號，這樣就不需要發生器和計數器之間的同步。

例如，用放在EUT內部的傳感器來監視敏感的信號線，一旦檢測到這根信號線上有干擾，就會發出一個光脈沖。HGZ01上的計數器對這些光脈沖進行計數。在一個周期信號(1秒鐘)序列期間檢測到的計數值，代表著干擾門限所處的位置，即EUT的敏感度。

如果在一個周期脈沖序列里檢測到11個脈沖，則干擾門限是u1，意味著注入電壓為u1的突發干擾，本區域就會遭受干擾；

如果檢測到的是3個脈沖，則干擾門限是u3。

檢測到的脈沖數越少，表明模塊設計得越好。

測量濾波器的濾波波形是一個非常典型的應用：把HGZ01產生的干擾電流注入到EUT，S31傳感器測量EUT上受干擾的線上的信號，在HGZ01計數器上可以讀到計數值，修改濾波器后，再次測量。兩次測量結果的對比，就可以很清楚地告訴你，你的設計修改是否有效。 
圖6 HGZ01的脈沖序列

5．實時監視EUT工作狀態

在抗干擾測試時，盡可能快地明確地發現EUT內的功能故障，是非常重要和關鍵的。然而，從外界來觀察的話，EUT故障經常是不可見的，或者過一段時間才能發現。例如，EUT里的處理器，已經死機了，但是顯示的還是正常的狀態，甚至顯示器上顯示的也是正常的信息。

為了進行有效的故障定位，有必要使用S31傳感器來提供與EUT功能有關的信息，例如用S31去監視看門狗電路的后置觸發信號、片選信號等，以監視EUT的工作狀態。HGZ01上的脈沖計數器可以監視，并判斷設備是否在正常工作。你也可以把S31的光纖輸出連接到光纖接收器，光纖接收器把S31送來的光信號變為電信號，再連接到示波器上進行觀察和分析。

總線系統或者接口上的數據流，往往能反映系統的操作狀態。但是通過示波器或者邏輯分析儀來監視是很浪費時間的，而且成本很高。采用HGZ01的計數器來監視數據流，是一個快速的方法。由于數據的內容會改變，而且計數器和數據包是不同步的，所以計數器上的值是會變化的。盡管如此，計數器上的值，還是能體現出EUT處于不同的工作狀態。這樣工程師就可以通過計數器顯示的結果來判斷設備的工作狀態。例如在EUT復位后重新啟動時記錄的值，就是代表了EUT當前的工作狀態。這樣，工程師就能在抗干擾測量中發現EUT是否復位了，還是在傳輸數據時經常要重新發送，或者類似的由干擾引起的其他問題。

如果干擾脈沖正好出現在EUT的程序中要求嚴格的階段(例如正在通過接口進行數據傳輸)，就可能出現功能故障。出現功能故障的頻繁程度，取決于EUT的結構。因此我們必須在適當的電壓電平上測量足夠長的時間，確保EUT不會產生功能故障。這種方法，是利用EUT出現故障作為敏感度的參考依據，在實際調試中需要花費大量精力和時間。

如果在EUT內部某個位置安裝一個傳感器，傳感器的干擾門限是和時間無關的，我們可以利用傳感器的計數值，作為敏感度的參考依據。這樣的話，就不需要進行長時間的測量。這種方法特別適合于評估濾波器、屏蔽以及旁路的效果。

實際工作中，電路內部的IC和傳感器對快速干擾的敏感程度是不同的。所以可能會出現在干擾電壓增加時，EUT先被動干擾了，而傳感器還沒有被動干擾到，或者相反的情況。這時，需要建立一個EUT干擾門限和傳感器干擾門限的關系，如果在EUT上僅僅修改屏蔽或者濾波，則這種相對的關系會保持不變。傳感器干擾門限的改進，也意味著提高了EUT的抗干擾能力。

本文小結

對于EFT/ESD等突發的、高壓的、寬帶的干擾，傳統上難以測量，如果電子產品出現EFT/ESD問題，工程師只能憑經驗去解決問題。用于測量和排除EFT/ESD問題的E1抗干擾開發系統，給工程師一個全新的測量概念，能快速定位電路存在的敏感點，并通過設計修改，能以*低的成本讓被測物通過相關的電磁兼容標準測試。